Prístroje

Systém pre komplexnú RTG analýzu (štatút k RTG)

Modul A – Rtg. difraktometer Ultima IV, typ III, Rigaku

Zariadenie umožňuje štúdium kryštálovej štruktúry polykryštalických látok v  teplotnej oblasti (-180°C – 1200 °C) na vzduchu, v ochrannej atmosfére, resp. vo vákuu s využitím ako divergentného tak aj paralelného zväzku žiarenia resp. malouhlového rozptyly SAXS

Modul B – Rtg. difraktometer Ultima IV, typ II, Rigaku

Zariadenie umožňuje štúdium kryštálovej štruktúry tenkých vrstiev a povrchov v štandardnom a „in-plane“ usporiadaní

Modul C – Rtg. difraktometer D/MAX Rapid II, Rigaku

Štúdium kryštálovej štruktúry polykryštalických materiálov vo veľkom rozsahu veľkosti kryštalitov, mikrodifrakcia. 2D „image plate“ detektor.

Skenovací elektrónový mikroskop Mira 3 s autoemisnou katódou. Pracovné vákuum: < 9 x 10^-3 Pa, (katóda < 3 x 10^–7 Pa). Rozlíšenie: 1.2 nm pri 30 kV, 2.5 nm pri 3 kV

Mikroanalýza pomocou energiovo-disperznej spektroskpie (EDS), vlnovo-disperznej spektroskopie  (WDS) a difrakcie spätne odrazených elektrónov (EBSD).

Polarizačný svetelný mikroskop Nikon

Zariadenia na prípravu preparátov pre mikroskopickú analýzu: presná kotúčová rezačka, lis na zalisovanie preparátov, zariadenia na brúsenie a leštenie preparátov).

Termický analyzátor  NETZSCH STA 449 F1 Jupiter napojený na hmotnostný spektrometer NETZSCH QMS 403 C Aëolos. Umožňuje meranie v režime DTA, DSC a TG v teplotnej oblasti 30 až 1650  °C vo vákuu alebo kontrolovanej atmosfére (Ar, N2 O2, vzduch).

Komplexná technológia na prípravu práškových materiálov a rast kryštálov: trecí a planetárny mlyn, sytovacia aparatúra, aparatúra na miešanie práškov, hydraulický lis, GlowBox na prácu v ochrannej atmosfére, rúrové pece pre prácu v kontrolovanej atmosfére, komorové pece pre rast kryštálov.